萬(wàn)睿視VAREX平板探測(cè)器是一種精密和貴重的設(shè)備，對(duì)成像質(zhì)量起著決定性的作用，熟悉探測(cè)器的性能指標(biāo)有助于提高成像質(zhì)量和減少X線輻射劑量。

 

　　萬(wàn)睿視VAREX平板探測(cè)器的校準(zhǔn)方法：

　　萬(wàn)睿視VAREX平板探測(cè)器為例，探討平板探測(cè)器的校準(zhǔn)，平板探測(cè)器校準(zhǔn)由關(guān)鍵操作員執(zhí)行，關(guān)鍵操作員一般是指醫(yī)學(xué)工程部門的工程師或受到相關(guān)培訓(xùn)的設(shè)備操作員，在執(zhí)行平板探測(cè)器校準(zhǔn)之前，要求DR設(shè)備連續(xù)開機(jī)（平板探測(cè)器工作）4H以上，平板探測(cè)器校準(zhǔn)包括偏置刷新、暗度校準(zhǔn)和X線校準(zhǔn)。

　　方法一：偏置刷新：

　　偏置刷新校準(zhǔn)每天進(jìn)行1次，大約需要5min，偏置刷新校準(zhǔn)用一系列Offset image，來(lái)清除由于環(huán)境變化或高劑量曝光后圖像殘留造成的偽影。偏置刷新校準(zhǔn)也更新壞點(diǎn)圖。

 

　　方法二：暗度校準(zhǔn)：

　　暗度校準(zhǔn)每月進(jìn)行1次，大約需要25min，在這個(gè)過(guò)程中沒(méi)有X線產(chǎn)生，暗度校準(zhǔn)是通過(guò)校準(zhǔn)獲取一系列Offset image，把這些圖像平均后計(jì)算得到一個(gè)參考圖像。暗度校準(zhǔn)主要作用是執(zhí)行平板探測(cè)器本底校準(zhǔn)，保證了探測(cè)器的均一性，如果平均探測(cè)器第1次被安裝并且沒(méi)有被校準(zhǔn)，一定要在X線校準(zhǔn)之間進(jìn)行暗度校準(zhǔn)。

 

　　方法三：X線校準(zhǔn)：

　　X線校準(zhǔn)每月進(jìn)行1次，大約需要30min，在這個(gè)過(guò)程中要進(jìn)行15次X 線曝光，X線校準(zhǔn)包括增益校準(zhǔn)、壞點(diǎn)圖更新。增益校準(zhǔn)是在特定劑量下交替獲得偏置和X線圖像，在這個(gè)過(guò)程中實(shí)現(xiàn)對(duì)探測(cè)器非晶電路增益校準(zhǔn)。壞點(diǎn)圖就是在維修模式下，探測(cè)器板空曝圖像，這種圖要比正常的DICOM圖要豐富，包括一些肉眼看不到的壞點(diǎn)。壞點(diǎn)圖更新是一個(gè)獲取偏置和X線圖像計(jì)算壞點(diǎn)圖過(guò)程。

 

　　萬(wàn)睿視VAREX平板探測(cè)器校準(zhǔn)中的注意事項(xiàng)：

　　有時(shí)因?yàn)槭覂?nèi)溫度波動(dòng)超過(guò)5℃，設(shè)備會(huì)要求立即執(zhí)行平板探測(cè)器校準(zhǔn)，所以保證盡量室內(nèi)溫度的恒定，在X線核準(zhǔn)過(guò)程中，要保證在準(zhǔn) 直器和探測(cè)器宰沒(méi)有遮擋的物體，同時(shí)保證準(zhǔn)直器視野已經(jīng)開到大（1075px*1075px），如果沒(méi)有達(dá)到上述要求將會(huì)導(dǎo)致校準(zhǔn)失敗，這時(shí)有劑量太低的提示信息，需按要求重新進(jìn)行X線核準(zhǔn)。